薄膜測量系統(tǒng)用于測量薄膜反射率及膜層厚度
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薄膜測量系統(tǒng)是專門針對半導體、材料、生物醫(yī)學薄膜的實驗室分析及在線監(jiān)測開發(fā)的,用于測量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測量系統(tǒng)。 該系統(tǒng)基于白光反射及干涉的原理來確定光學薄膜的厚度??梢酝ㄟ^對白光干涉圖樣進行數(shù)學運算來計算出薄膜厚度。對于單層膜來說,如果已知薄膜的n和k值就可以計算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm軟件內(nèi)有一個包含大部分常用材料和膜層的n值和k值的數(shù)據(jù)庫。TFProbe多層膜測量軟件可以測量多達5層膜的厚度和光學常數(shù)(n、k值),實現(xiàn)實時或在線膜厚和折射率監(jiān)控。 | |
參數(shù)指標:
- 光譜范圍 200~1100nm 測量速度 2 ms minimum
- 膜厚范圍 10nm~200μm基底厚度up to 50mm thick
- 分辨率 1nm 測量精度 better than 0.25%
典型應用領(lǐng)域:
- Semiconductor fabrication (PR, Oxide, Nitride..) 半導體制造
- Liquid crystal display (ITO, PR, Cell gap…..) 液晶顯示器
- Forensics, Biological films and materials 醫(yī)學、生物薄膜或材料
- Inks, Mineralogy, Pigments, Toners 印刷油墨,礦物學,顏料,碳粉
- Pharmaceuticals, Medial Devices 制藥
- Optical coatings, TiO2, SiO2, Ta2O5….. 光學薄膜
- Semiconductor compounds 半導體化合物
- Functional films in MEMS/MOEMS 功能薄膜材料
- Amorphous, nano and crystalline Si 非晶硅
AvaSoft-Thinfilm應用系統(tǒng)可以搭配多種應用系統(tǒng)附件,例如光纖多路復用器、顯微鏡、過真空裝置等附件,實現(xiàn)多點位同時測量、微區(qū)測量、過程監(jiān)控等復雜領(lǐng)域的應用。 例如:AvaSoft-Thinfilm應用系統(tǒng)能夠?qū)崟r監(jiān)控膜層厚度,并且可以與其他AvaSoft應用軟件如XLS輸出到Excel軟件和過程監(jiān)控軟件一起使用。