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AvaSolar手持式分光輻射儀
產(chǎn)品型號(hào)：
所屬分類：手持式光譜儀
更新時(shí)間：2023-07-10
訪問(wèn)次數(shù)：7281
簡(jiǎn)要描述：AvaSolar手持式分光輻射儀是專門針對(duì)太陽(yáng)模擬器光譜匹配度測(cè)試而設(shè)計(jì)的，適用于測(cè)量連續(xù)型和脈沖型（單次頻閃或高頻短脈寬）太陽(yáng)模擬器的光譜特性?？梢詫?shí)現(xiàn)每秒450幅光譜的高速測(cè)量，能夠捕捉到一個(gè)脈沖周期內(nèi)不同時(shí)間點(diǎn)的光譜強(qiáng)度。
詳細(xì)說(shuō)明：
品牌 AVANTES 價(jià)格區(qū)間 面議 光譜范圍 近紅外 按探測(cè)器 CCD 應(yīng)用領(lǐng)域 食品,石油,地礦,能源
AvaSolar手持式分光輻射儀系列是專門針對(duì)太陽(yáng)模擬器光譜匹配度測(cè)試而設(shè)計(jì)的，適用于測(cè)量連續(xù)型和脈沖型（單次頻閃或高頻短脈寬）太陽(yáng)模擬器的光譜特性?？梢詫?shí)現(xiàn)每秒450幅光譜的高速測(cè)量，能夠捕捉到一個(gè)脈沖周期內(nèi)不同時(shí)間點(diǎn)的光譜強(qiáng)度。此外，采用非線性校準(zhǔn)技術(shù)，響應(yīng)一致性優(yōu)于99%。AvaSolar手持式分光輻射儀系列給出的光譜輻射照度溯源于中國(guó)計(jì)量科學(xué)院的標(biāo)準(zhǔn)光源，校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度: U=8.0% (k=2)，并提供中國(guó)計(jì)量科學(xué)院的校準(zhǔn)證書。
手持式光譜儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
太陽(yáng)能電池特性測(cè)試
聚光光伏研究
紫外老化試驗(yàn)
光催化降解加速研究
化妝用品檢測(cè)（R/T）
大氣和環(huán)境光學(xué)研究
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | AvaSolar-1 | AvaSolar-2 | AvaSolar-2-Compact | AvaSolar-3 | AvaSolar-HH | ||||
光譜范圍 | 300-1100 nm | 300-1700 nm | 200-1700 nm | 300-2500 nm | 300-1100 nm | ||||
光譜分辨率 | 2.5 nm @ 300-1100 nm | 2.5 nm @ 300-1100 nm 5.7 nm @ 1050-1700 nm | 2.5 nm @ 200-1100 nm 8 nm @ 1050-1700 nm | 2.5 nm @ 300-1100 nm 15 nm @ 1050-2500 nm | 2.5 nm @ 300-1100 nm | ||||
光譜采樣間隔 | 0.6 nm | 0.6 nm @ 300-1100 nm; 3 nm @ 1050-1700 nm | 0.6 nm @ 200-1100 nm 3.3 nm @ 1050-1700 nm | 0.6 nm @ 300-1100 nm; 6 nm @ 1050-2500 nm | 0.6 nm | ||||
光譜精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm @ 300-1100 nm; 1nm @ 1050-1700 nm | ± 0.2 nm @ 200-1100 nm 1 nm @ 1050-1700 nm | ±0.2 nm @ 300-1100 nm; 1 nm @ 1050-2500 nm | ±0.2 nm | ||||
探測(cè)器 | 背照式CCD探測(cè)器，2048像素， 像素尺寸14x500um | 背照式CCD探測(cè)器，2048像素，像素尺寸14x500um 256像素InGaAs陣列，TE制冷 | 背照式CCD探測(cè)器，2048像素，像素尺寸14x500um 256像素InGaAs陣列 | 背照式CCD探測(cè)器，2048像素，像素尺寸14x500um 256像素InGaAs陣列，TE制冷 | 背照式CCD探測(cè)器，2048像素， 像素尺寸14x500um | ||||
信噪比 | 525:1 | 525:1@ 300-1100 nm 5000:1 @1050-1700 nm | 525:1@ 200-1100 nm 5000:1 @1050-1700 nm(LN) | 525:1@ 300-1100 nm 4000:1 @1050-2500 nm | 525:1 | ||||
積分時(shí)間（曝光時(shí)間） | 2us – 20s | ||||||||
波長(zhǎng)重復(fù)性 | ± 0.1 nm@ ± 10 °C溫度變化 | ||||||||
硬件光譜平均 | 可達(dá)10萬(wàn)次 | ||||||||
響應(yīng)線性度 | 優(yōu)于99% | ||||||||